XRF Portable Analysis طیف سنج فلوئروسانس

معرفی طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس (XRF)

در طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس، (XRF=X-ray Fluorescence Spectroscopy)، از روش طیف نشری اشعه ایکس برای تجزیه لایه‌های سطحی استفاده می‌شود. این تکنیک توانایی انجام آنالیز عنصری به‌صورت کیفی و نیمه کمی نمونه‌ها به خصوص نمونه های معدنی را داراست. در اثر تابش اشعه ایکس و برانگیختگی نمونه، انتقال الکترونی در لایه‌های مختلف اتم انجام می‌شود که هر انتقال الکترونی همراه با نشر یک خط طیفی اشعه ایکس است. طول موج خطوط طیفی نشر شده مبنای تجزیه کیفی عناصر و شدت پرتوها، متناسب با فراوانی یا کمیت عناصر موجود در نمونه است.

اساس کار طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس در XRF ، اشعه ایکس اولیه در لوله تنگستن – مولیبدن یا کروم تولید می شود. اشعه ایکس خروجی از لوله، در اثر برخورد با نمونه و بمباران آن، الکترون های مدارهای داخلی اتم را آزاد می کند و فضاهای خالی در پوسته الکترونی اتم ها ایجاد می شود که این فضاهای خالی معمولا با الکترون هایی که در سطح انرژی بالاتر قرار گرفته اند؛ پر می شوند. در اثر گذار الکترون از سطح انرژی بالاتر به سطح انرژی پایین تر، اشعه ایکس ثانویه (فلوئورسانس) تولید می شود که مشخصه عنصرهای موجود در نمونه است و به این ترتیب شناسایی عناصر مختلف صورت می گیرد. شکل 1 تولید اشعه ایکس ثانویه k و L را در اثر انتقال الکترونی نشان می دهد.

 

سازنده: Olympus
Vanta Series XRF
سازنده: Oxford Instruments
دستگاه XRF مدل X-MET 7500
سازنده: Oxford Instruments
دستگاه XRF مدل X-MET8000 Expert
سازنده: Oxford Instruments
طیف سنج XRF X-MET8000 Optimum
سازنده: Oxford Instruments
X-MET8000 Smart
Copyright www.webdesigner-profi.de